忆联AE531高可靠方案以1008小时零错误铸就极致数据保持

AI技术的快速发展,正推动消费级存储迎来“可靠性革命”。如今,用户对SSD的期待已不再局限于TB级容量和GB/s速度的二维竞争,更延伸至“数据永在”这一全新维度的追求。数据保持力(Data Retention)已成为评估SSD价值的关键指标,其本质是存储单元电荷的保持能力。即,NAND Flash通过电荷阈值判别数据状态,但制程微缩和存储密度提升导致电荷泄漏加剧,直接影响数据保持周期。

忆联AE531高可靠性技术方案基于行业高标准构建,通过多项技术创新,成功突破QLC固有局限:

增强型LDPC纠错引擎:搭载双解码引擎级联纠错与双重ECC架构,显著提升纠错能力,在极端工作环境下依然保证数据完整可靠。

自适应NAND读重试算法:实时监测Retry Level并动态优化读取电压阈值,显著提升数据保持场景下NAND的读取成功率和效率。

四核创新架构:采用四核架构分工协同,前后台驱动优化写入效率,后端并行处理四通道NAND任务,有效降低写放大(WAF)。

精细化SLC缓存管理:基于动态/静态混合缓存模式,智能分配回收算法,保障异常断电场景下的数据安全,确保高负载读写时的数据完整性与耐久性。


客户需求

BOL Retention(生命周期起始阶段保持力)

本测试旨在验证AE531在生命周期起始阶段长期断电状态下的数据保持能力。测试采用10片全新样品,在预填充全盘数据或Windows OS(90%用户数据)后,在断电状态下,将其置于100℃高温下进行加速烘烤,此条件等效于在43℃环境下静置3年。

结果显示,所有样本在后续的Windows系统引导、用户数据完整读取等关键环节中,均未出现任何超时、宕机或数据错误,烘烤后系统启动时间稳定保持在50秒以内。这充分说明,AE531产品在交付之初即具备卓越的数据可靠性与稳定的高性能表现。

在相同严苛的测试条件下,我们将AE531的表现与市场主流QLC SSD进行直接对比。结果显示,AE531烘烤后的系统启动时间较友商缩短35%;而在性能稳定性这一关键指标上,AE531整体表现优于友商,性能仅降低15%,而友商则大幅降低95%。

图:忆联AE531与友商BOL Retention测试结果对比


RDT(Reliability Demonstration Test)

本测试旨在验证AE531在极端压力下的长期工作可靠性及数据保持能力。测试严格遵循JESD219A定义的客户端工作负载模型,对样本连续施加300TB写入量,同时每日额外执行120次低功耗循环测试及2次断电循环测试,以模拟产品生命末期的严苛使用场景,并最终验证其长期断电后的数据保持能力。

结果显示,在持续1008小时极限测试后,所有样本均以零错误率100%通过验证,具体包括:

● 无不可恢复错误

无SMART故障

无新增坏块

无数据比对错误

无其他异常

其可靠性指标同样卓越:MTBF(平均无故障时间)预估超过200万小时,等效AFR(年失效率)低至0.2%,远超消费级产品的常规标准。


图:RDT持续测试后AE531样本状态




Performance(专项性能测试)

本测试旨在验证AE531的“末端性能”,即产品在设计生命末期的测试表现与初始状态的一致性。通过在RDT前后进行比对验证,AE531的关键性能指标波动范围被严格控制在10%以内。这证明了AE531不仅在长期使用后能确保数据的高度安全,更能持续提供卓越且稳定的读写性能。



忆联AE531 QLC SSD 已通过全面超越JEDEC标准的严苛验证,在数据保持力与长期可靠性两大核心维度树立了新的行业基准。这一成就具体体现为三大用户价值:

“存得久”:数据在全生命周期内保持稳健,从起始到末期均提供可靠保障。

“取得出”:即使在高温烘烤等极端条件下,仍能实现快速响应与稳定读写。

“信得过”:其关键可靠性指标(如MTBF/AFR)已达到商用级要求,奠定坚实信任基础。

综上所述,忆联通过AE531高可靠性技术方案,以底层技术创新与权威实证,重新定义了消费级固态存储的性能基线,为用户数据的长期完整性与可用性提供了坚实保障。



解决方案

为验证方案的终极可靠性,忆联严格遵循 JEDEC 行业标准,并依据其核心测试规范——JESD218B-01(SSD 需求与耐久性测试方法)与 JESD219A(SSD 耐久性工作负载),对 1TB 样本执行了系统性验证。测试全面涵盖以下关键项目,确保每一项指标均经得起最严苛的考验:

BOL Retention:验证初始数据保持能力

RDT:进行可靠性寿命测试

Performance:评估耐久性负载下的性能稳定性

图:JESD218B-01


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